Bücher 2009
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F. Blumrich
Optische korrelationsbasierte Messtechnik mittels zufälliger Punktemuster, Dissertation
ISBN: 3-83810958-9 / 978-383810958-9
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Die grundlegende Idee der optischen korrelationsbasierten Messtechnik besteht darin, die lokale Kreuzkorrelation zur Lösung des Korrespondenzproblems anzuwenden. Dazu wird ein zufälliges, und dadurch eindeutig zu korrelierendes, Punktemuster mittels einer digitalen Kamera aufgenommen. Die Auswertung des so gewonnenen Bildpaares erfolgt mit Hilfe von Kreuzkorrelationsalgorithmen auf Basis von räumlichen Auswertefenstern. Dieser Ansatz zur Lösung des Korrespondenzproblems ist schnell, eindeutig und robust. Im Rahmen dieser Arbeit wird ein Schwerpunkt auf die Untersuchung der Algorithmen zur Sub-Pixel-Detektion gelegt. Es wird gezeigt, dass die bisherigen Algorithmen im Falle elliptischer Korrelationsmaxima einen systematischen Fehler besitzen, der die normalerweise zu erwartende Messgenauigkeit deutlich übersteigt. Zusätzlich ist eine Herleitung der analytischen Beschreibung des systematischen Fehlers Teil dieser Arbeit. Durch die Anwendung eines allgemeinen zweidimensionalen Algorithmus zur Sub-Pixel-Detektion, kann dieser systematische Fehler vollständig eliminiert werden. (Quelle: Amazon)
Optische korrelationsbasierte Messtechnik mittels zufälliger Punktemuster, Dissertation
ISBN: 3-83810958-9 / 978-383810958-9
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Die grundlegende Idee der optischen korrelationsbasierten Messtechnik besteht darin, die lokale Kreuzkorrelation zur Lösung des Korrespondenzproblems anzuwenden. Dazu wird ein zufälliges, und dadurch eindeutig zu korrelierendes, Punktemuster mittels einer digitalen Kamera aufgenommen. Die Auswertung des so gewonnenen Bildpaares erfolgt mit Hilfe von Kreuzkorrelationsalgorithmen auf Basis von räumlichen Auswertefenstern. Dieser Ansatz zur Lösung des Korrespondenzproblems ist schnell, eindeutig und robust. Im Rahmen dieser Arbeit wird ein Schwerpunkt auf die Untersuchung der Algorithmen zur Sub-Pixel-Detektion gelegt. Es wird gezeigt, dass die bisherigen Algorithmen im Falle elliptischer Korrelationsmaxima einen systematischen Fehler besitzen, der die normalerweise zu erwartende Messgenauigkeit deutlich übersteigt. Zusätzlich ist eine Herleitung der analytischen Beschreibung des systematischen Fehlers Teil dieser Arbeit. Durch die Anwendung eines allgemeinen zweidimensionalen Algorithmus zur Sub-Pixel-Detektion, kann dieser systematische Fehler vollständig eliminiert werden. (Quelle: Amazon)
M. de Campos Porath
Metrologische Qualifizierung von Koordinatenmessgeräten für mikromechanische Bauteile, Dissertation
ISBN: 978-3-940565-31-0
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Die vollautomatisierte Herstellung von Bauteilen mit mechanischen Strukturen mit Größen bis in den Mikrometerbereich ist heute Stand der Technik. Die Qualitätssicherung solcher mikromechanischer Bauteile erfolgt aber aufgrund des Mangels an geeigneten Messmitteln oft ausschließlich durch Funktionsprüfungen. In den letzten Jahren wurden sowohl von der Industrie als auch von Forschungseinrichtungen Anstrengungen unternommen, um effiziente Messsysteme für die Quantifizierung geometrischer Merkmale mikromechanischer Bauteile zu schaffen. Viel versprechend sind Mikro-Koordinatenmessgeräte (Mikro-KMG), die durch Anwendung spezieller Positioniereinheiten und Sensoren die Erfassung von kleinen Geometrien mit Messunsicherheiten bis in den Bereich unter 100 nm ermöglichen. Damit diese geringe Messunsicherheit erreicht werden kann, sind aber Strategien zur Korrektur systematischer Fehler der Geräte notwendig. Außerdem sind Verfahren zur Prüfung der Messgenauigkeit mit kalibrierten Prüfkörpern unabdingbar, um die Einhaltung von Herstellerspezifikationen nachzuweisen und die Stabilität des Gerätes zu überwachen. Die Quantifizierung und Korrektur von systematischen Fehlerkomponenten sowie die Genauigkeitsprüfung sind Gegenstand der metrologischen Qualifizierung des Gerätes. Besondere Eigenschaften von Mikro-KMG schließen aber die vollständige Übertragung von Modellen und Verfahren für konventionelle KMG aus. In der vorliegenden Arbeit wird eine Antwort auf die Frage gesucht, wie Mikro-KMG metrologisch qualifiziert werden können. Anhand eines ausgewähltes Mikro-KMG werden Systematiken zur Korrektur von geometrischen Abweichungen der Positioniereinheit und thermisch bedingten Abweichungen sowie zur Berücksichtigung der Sensoreigenschaften erarbeitet. Ausgehend von der Analyse der Anwendbarkeit aktueller Regelwerke, werden Lösungen für die Genauigkeitsprüfung von Mikro-KMG entwickelt. Diese basieren auf die Anwendung von Prüfkörpern, die auf die besonderen Eigenschaften von Mikro-KMG angepasst sind und mit ausreichend geringer Messunsicherheit kalibriert werden können. (Quelle: Amazon)
Metrologische Qualifizierung von Koordinatenmessgeräten für mikromechanische Bauteile, Dissertation
ISBN: 978-3-940565-31-0
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Die vollautomatisierte Herstellung von Bauteilen mit mechanischen Strukturen mit Größen bis in den Mikrometerbereich ist heute Stand der Technik. Die Qualitätssicherung solcher mikromechanischer Bauteile erfolgt aber aufgrund des Mangels an geeigneten Messmitteln oft ausschließlich durch Funktionsprüfungen. In den letzten Jahren wurden sowohl von der Industrie als auch von Forschungseinrichtungen Anstrengungen unternommen, um effiziente Messsysteme für die Quantifizierung geometrischer Merkmale mikromechanischer Bauteile zu schaffen. Viel versprechend sind Mikro-Koordinatenmessgeräte (Mikro-KMG), die durch Anwendung spezieller Positioniereinheiten und Sensoren die Erfassung von kleinen Geometrien mit Messunsicherheiten bis in den Bereich unter 100 nm ermöglichen. Damit diese geringe Messunsicherheit erreicht werden kann, sind aber Strategien zur Korrektur systematischer Fehler der Geräte notwendig. Außerdem sind Verfahren zur Prüfung der Messgenauigkeit mit kalibrierten Prüfkörpern unabdingbar, um die Einhaltung von Herstellerspezifikationen nachzuweisen und die Stabilität des Gerätes zu überwachen. Die Quantifizierung und Korrektur von systematischen Fehlerkomponenten sowie die Genauigkeitsprüfung sind Gegenstand der metrologischen Qualifizierung des Gerätes. Besondere Eigenschaften von Mikro-KMG schließen aber die vollständige Übertragung von Modellen und Verfahren für konventionelle KMG aus. In der vorliegenden Arbeit wird eine Antwort auf die Frage gesucht, wie Mikro-KMG metrologisch qualifiziert werden können. Anhand eines ausgewähltes Mikro-KMG werden Systematiken zur Korrektur von geometrischen Abweichungen der Positioniereinheit und thermisch bedingten Abweichungen sowie zur Berücksichtigung der Sensoreigenschaften erarbeitet. Ausgehend von der Analyse der Anwendbarkeit aktueller Regelwerke, werden Lösungen für die Genauigkeitsprüfung von Mikro-KMG entwickelt. Diese basieren auf die Anwendung von Prüfkörpern, die auf die besonderen Eigenschaften von Mikro-KMG angepasst sind und mit ausreichend geringer Messunsicherheit kalibriert werden können. (Quelle: Amazon)
E. Dietrich, S. Conrad
Anwendung statistischer Qualitätsmethoden, 3. verbesserte Auflage
ISBN: 3-446-41866-0 / 978-3-446-41866-0
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Das Buch beschreibt die Anwendung und Umsetzung statistischer Methoden im Qualitätsmanagement von Produktionsbetrieben - von der klassischen Annahmestichprobenprüfung über aktuelle Standards der Messsystemfähigkeit bis zu den neuen Normen zur Prozessbeurteilung. Dem Leser werden die notwendigen statistischen Qualitätsmethoden vermittelt, statistische Methoden zur Gewinnung von Qualitätskennzahlen und Qualitätsregelgrößen erläutert, der Einsatz der Methoden zur Optimierung der operativen betrieblichen Prozesse aufgezeigt. Heute werden rechnergestützte Methoden bevorzugt und Schwerpunkte auf grafische Analysen von Messwerten und Kenngrößen gelegt. Zur Visualisierung werden Darstellungen der Software qs-STAT der Q-DAS GmbH genutzt, die mit der beiliegenden Demo-Version der Software einfach nachvollzogen werden können. (Quelle: Amazon)
Anwendung statistischer Qualitätsmethoden, 3. verbesserte Auflage
ISBN: 3-446-41866-0 / 978-3-446-41866-0
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Das Buch beschreibt die Anwendung und Umsetzung statistischer Methoden im Qualitätsmanagement von Produktionsbetrieben - von der klassischen Annahmestichprobenprüfung über aktuelle Standards der Messsystemfähigkeit bis zu den neuen Normen zur Prozessbeurteilung. Dem Leser werden die notwendigen statistischen Qualitätsmethoden vermittelt, statistische Methoden zur Gewinnung von Qualitätskennzahlen und Qualitätsregelgrößen erläutert, der Einsatz der Methoden zur Optimierung der operativen betrieblichen Prozesse aufgezeigt. Heute werden rechnergestützte Methoden bevorzugt und Schwerpunkte auf grafische Analysen von Messwerten und Kenngrößen gelegt. Zur Visualisierung werden Darstellungen der Software qs-STAT der Q-DAS GmbH genutzt, die mit der beiliegenden Demo-Version der Software einfach nachvollzogen werden können. (Quelle: Amazon)
P.-B. Eipper
Untersuchung unbehandelter und behandelter Ölfarbenoberflächen durch das 3D-Streifenprojektionsverfahren auf Mikrospiegelbasis, Dissertation
ISBN: 3-8381-1636-4 / 978-3-8381-1636-5
Untersuchung unbehandelter und behandelter Ölfarbenoberflächen durch das 3D-Streifenprojektionsverfahren auf Mikrospiegelbasis, Dissertation
ISBN: 3-8381-1636-4 / 978-3-8381-1636-5
A. Gallasch
Autorenanalyse Längen- und Koordinatenmesstechnik, 2. Ausgabe
Autorenanalyse Längen- und Koordinatenmesstechnik, 2. Ausgabe
M. Gruhlke
Untersuchungen für den industriellen Einsatz der Nanometerkoordinatenmesstechnik, Dissertation
ISBN: - / -
Untersuchungen für den industriellen Einsatz der Nanometerkoordinatenmesstechnik, Dissertation
ISBN: - / -
D. Imkamp, C. Discher, R. Disser, J. Wanner, R. Roithmeier
Genauigkeits- und Leistungsdaten von Koordinatenmessgeräten: MPE-Kennwerte, Fähigkeit und Eignung
ISBN: 3-9811422-7-6 / 978-3-9811422-7-3
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In Unterschied zu vielen Prüfmitteln in der Fertigungsmesstechnik, die sich nur für eine oder eine bestimmte Gruppe von Messaufgaben eignen (z. B. Messschieber für Längenmessungen), können Koordinatenmessgeräte für eine große Bandbreite von Messaufgaben verwendet werden. Die Frage nach der Genauigkeite eines Koordinatenmessgerätes oder vielmehr nach der Eignung für eine bestimmte Mesaufgabe wird daher auf sehr unterschiedliche Art und Weise beantwortet. Unter dem Motto „Es geht auch einfach" werden hier die verschiedenen Antworten kurz beschrieben und ihre Anwendungsbereiche dargestellt. Ziel ist es dabei zu zeigen, welches Vorgehen bei der Auswahl eines Koordinntenmessgerätes für die Lösung einer Messaufgabe zweckmäßigerweise angewendet werden kann. Gemäß der Normen und Richtlinien werden Grenzwerte für die Abweichungen, die bei den Messungen zulässig sind, spezifiziert. Bei Geräten, auf denen viele unterschiedliche Messungen an kleinen Losen oder an Einzelteilen durchgeführt werden, sind die gemäß einer Norm oder Richtlinie spezifitierten Grenzwerte für die Messabweichungen ein wichtiges Auswahlkriterium. Sie sollten deutlich kleiner als die zu messenden Toleranzen sein. Wenn Koordinatenmessgeräte jedoch für die Serienmessung von gleichen oder ähnlichen Teilen eigesetzt werden, lohnt sich eine messaufgabenspezifische Betrachtung der Genauigkeit des Messgerätes in Form einer Fähigkeits- oder Eignungsuntersuchung. (Quelle: Amazon)
Genauigkeits- und Leistungsdaten von Koordinatenmessgeräten: MPE-Kennwerte, Fähigkeit und Eignung
ISBN: 3-9811422-7-6 / 978-3-9811422-7-3
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In Unterschied zu vielen Prüfmitteln in der Fertigungsmesstechnik, die sich nur für eine oder eine bestimmte Gruppe von Messaufgaben eignen (z. B. Messschieber für Längenmessungen), können Koordinatenmessgeräte für eine große Bandbreite von Messaufgaben verwendet werden. Die Frage nach der Genauigkeite eines Koordinatenmessgerätes oder vielmehr nach der Eignung für eine bestimmte Mesaufgabe wird daher auf sehr unterschiedliche Art und Weise beantwortet. Unter dem Motto „Es geht auch einfach" werden hier die verschiedenen Antworten kurz beschrieben und ihre Anwendungsbereiche dargestellt. Ziel ist es dabei zu zeigen, welches Vorgehen bei der Auswahl eines Koordinntenmessgerätes für die Lösung einer Messaufgabe zweckmäßigerweise angewendet werden kann. Gemäß der Normen und Richtlinien werden Grenzwerte für die Abweichungen, die bei den Messungen zulässig sind, spezifiziert. Bei Geräten, auf denen viele unterschiedliche Messungen an kleinen Losen oder an Einzelteilen durchgeführt werden, sind die gemäß einer Norm oder Richtlinie spezifitierten Grenzwerte für die Messabweichungen ein wichtiges Auswahlkriterium. Sie sollten deutlich kleiner als die zu messenden Toleranzen sein. Wenn Koordinatenmessgeräte jedoch für die Serienmessung von gleichen oder ähnlichen Teilen eigesetzt werden, lohnt sich eine messaufgabenspezifische Betrachtung der Genauigkeit des Messgerätes in Form einer Fähigkeits- oder Eignungsuntersuchung. (Quelle: Amazon)
W. Jorden
Form- und Lagetoleranzen, 6. neu bearbeitete Auflage
ISBN: 3-446-41778-8 / 978-3-446-41778-6
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Eine technische Zeichnung muss ein Werkstück vollständig und eindeutig beschreiben. Bei 80% aller Zeichnungen in der Praxis fehlen die Form- und Lagetoleranzen. Dieses Buch erläutert systematisch und anschaulich Zusammenhänge zwischen Form-, Lage- und Maßtoleranzen. Es geht auf die neuesten Normen ein und stellt wichtige Verknüpfungen zum Qualitätsmanagement her. Die 3. Auflage ist durchgängig aktualisiert. Das Kapitel über Bezugssysteme wurde erweitert. (Quelle: Amazon)
Form- und Lagetoleranzen, 6. neu bearbeitete Auflage
ISBN: 3-446-41778-8 / 978-3-446-41778-6
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Eine technische Zeichnung muss ein Werkstück vollständig und eindeutig beschreiben. Bei 80% aller Zeichnungen in der Praxis fehlen die Form- und Lagetoleranzen. Dieses Buch erläutert systematisch und anschaulich Zusammenhänge zwischen Form-, Lage- und Maßtoleranzen. Es geht auf die neuesten Normen ein und stellt wichtige Verknüpfungen zum Qualitätsmanagement her. Die 3. Auflage ist durchgängig aktualisiert. Das Kapitel über Bezugssysteme wurde erweitert. (Quelle: Amazon)
T. Luhmann, C. Müller
Photogrammetrie - Laserscanning - Optische 3DMesstechnik: Beiträge der Oldenburger 3D-Tage 2009
ISBN: 3-87907-478-X / 978-3-87907-478-5
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Dieses Werk beinhaltet die überarbeiteten Tagungsbeiträge der 8. Oldenburger 3D-Tage "Optische 3D-Messtechnik - Photogrammetrie - Laserscanning", die unter der Leitung von Prof. Luhmann vom 28.01. bis 29.01.2009 an der Fachhochschule Oldenburg stattfinden. Die Beiträge in diesem Werk dokumentieren die neuesten Forschungsergebnisse und Anwendungsbeispiele aus der Praxis, die sonst an keiner anderen Stelle zu finden sind. Schwerpunktmäßig werden folgende Themen behandelt: Hybride Sensorsysteme, Navigation von Objekten und Sensoren, Dynamische Prozesse, Genauigkeitsprüfungen von Laserscannern, Neue Richtlinie VDI/VDE 2634 Blatt 3, 3D-Kameras, Nanomesstechnik und 3D-Mikroskopie. (Quelle: Amazon)
Photogrammetrie - Laserscanning - Optische 3DMesstechnik: Beiträge der Oldenburger 3D-Tage 2009
ISBN: 3-87907-478-X / 978-3-87907-478-5
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Dieses Werk beinhaltet die überarbeiteten Tagungsbeiträge der 8. Oldenburger 3D-Tage "Optische 3D-Messtechnik - Photogrammetrie - Laserscanning", die unter der Leitung von Prof. Luhmann vom 28.01. bis 29.01.2009 an der Fachhochschule Oldenburg stattfinden. Die Beiträge in diesem Werk dokumentieren die neuesten Forschungsergebnisse und Anwendungsbeispiele aus der Praxis, die sonst an keiner anderen Stelle zu finden sind. Schwerpunktmäßig werden folgende Themen behandelt: Hybride Sensorsysteme, Navigation von Objekten und Sensoren, Dynamische Prozesse, Genauigkeitsprüfungen von Laserscannern, Neue Richtlinie VDI/VDE 2634 Blatt 3, 3D-Kameras, Nanomesstechnik und 3D-Mikroskopie. (Quelle: Amazon)
M. Rahlves, J. Seewig
Optisches Messen technischer Oberflächen
ISBN: 3-41017133-9 / 978-978-3-41017133-1
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Das Pocket beschreibt systematisch mit Kurztexten und unter Verwendung zahlreicher Abbildungen die wichtigsten optischen Messprinzipien nach Anwendungsbereich, Spezifikation, Funktionsprinzip und Bauarten. Zusätzlich werden die entsprechenden Normen und Richtlinien aufgelistet. Das handliche Nachschlagewerk wird durch ein Glossar der wesentlichen Begriffe sinnvoll ergänzt.
Optisches Messen technischer Oberflächen
ISBN: 3-41017133-9 / 978-978-3-41017133-1
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Das Pocket beschreibt systematisch mit Kurztexten und unter Verwendung zahlreicher Abbildungen die wichtigsten optischen Messprinzipien nach Anwendungsbereich, Spezifikation, Funktionsprinzip und Bauarten. Zusätzlich werden die entsprechenden Normen und Richtlinien aufgelistet. Das handliche Nachschlagewerk wird durch ein Glossar der wesentlichen Begriffe sinnvoll ergänzt.
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